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    반도체 디바이스가 20㎚ 시대로 들어가면서 금속성 또는 유기, 무기성 오염에 의한
    Non-Visual Defect이 반도체 수율에 미치는 영향이 점점 중요해지고 있어 더 이상 무시할 수 없는 수준에 이르고 있습니다.
    따라서, Non-Visual Defect에 대한 관리는 20㎚ 이하 디바이스의 개발 및 수율 관리에 핵심적인 요소가 될 것입니다.
    당사의 M-SPEC, O-SPEC 및 I-SPEC은 각각 반도체 생태계에 필요한 Wafer 표면 및 Bulk, 공정 Gas 및 Chemical 속에
    잔류하는 금속성, 유기성, 무기성 오염을 모니터링하는 Total Solution을 제공합니다.
      • NvA-MC3000 시리즈
      • NvA-MG3000 시리즈
      • NvA-MW300 시리즈
      • NvA-OW300 시리즈
      • NvA-IW300 시리즈
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경기도 용인시 기흥구 흥덕중앙로 120, 2801호(영덕동, 유타워)
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